泰勒Surtronic DUO直接表面接觸粗糙度儀

• 更新時間：2017-04-06
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泰勒Surtronic DUO直接表面接觸粗糙度儀
泰勒霍普森是一種超精密技術公司在精度，表面及表計量領域內的Z高水平運行。我們提供接觸式和非接觸式測量解決方案，以在范圍內Z苛刻的應用，與世界各地的基礎設施，以支持我們的客戶，無論他們在哪里。

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泰勒Surtronic DUO直接表面接觸粗糙度儀
泰勒霍普森是一種超精密技術公司在精度，表面及表計量領域內的zui高水平運行。我們提供接觸式和非接觸式測量解決方案，以在范圍內zui苛刻的應用，與世界各地的基礎設施，以支持我們的客戶，無論他們在哪里。

泰勒•霍普森有限公司專業從事精度表面及其輪廓形狀測量，是的圓度/圓柱度儀、表面粗糙度輪廓儀、白光干涉表面輪廓儀及超精單點金剛石車床等設備的供應商，總部位于英國萊斯特市，我們提供接觸與非接觸測量方法以滿足多種應用需求，公司產品廣泛應用于現代制造業及新興產業，如半導體、硬盤、精密光學、微納米學等。并大力發展篤摯儀器（上海）有限公司為國內總代理。

為了留在我們的領域的前沿，我們大力投資于  研究和開發，并擁有廣泛的產品組合的知識產權（IP） ，無論是作為和在我們的產品，正不斷地擴展結合的知識。并大力發展篤摯儀器（上海）有限公司為國內總代理。

我們正在不斷發展我們的產品組合，以滿足不斷增加的今天的行業需求。泰勒霍普森的產品被廣泛應用于下一代技術的開發和生產，特別是在半導體，硬盤，精密光學和能源技術。

泰勒霍布森是超精密技術事業部的一部分  阿美特克公司，總部設在印第安納州Paoli，賓夕法尼亞州一家美國公司。擁有超過10,000名員工，年收入超過25億美元及盈利增長和現金生成一個良好的記錄，阿美特克公司提供了一個強大的環境，以確保泰勒霍普森的持續成功走向未來。

Surtronic DUO技術參數：
分辨率： 0.01μm（0.4μin）
量程（Ra）： zui大值40μm（1600μin）（Rz、Rv、Rp、Rt）：zui大值199μm（7800μin）
重復性： 示值的2% + 噪聲
精度： 讀數的5% + 0.1μm（4μin）
噪聲： 0.02μm（0.8μin）
標準： ISO4287
參數： Ra、Rz、Rv、Rp、Rt、Rz1mzx、Rsk、Rq、Rku，Pa、Pz、Pv、Pp、Pt
傳感器類型： 壓電式
測針類型： 金剛石，半徑5μm（200μin）
測量力： 200mg
測量類型： 導塊式
濾波器類型： 高斯濾波
取樣長度： 0.8mm
驅動長度： 5mm（0.2in）
驅動速度： 2mm/秒（0.08in/秒）
單位： μm、μin
電池： 鋰充電電池
充電時間： 4小時
充電器： 輸入 交流110-240V 50/60Hz 輸出 Mini USB 5V 1A 待機到工作狀態： ≤5秒
自動休眠： 5分鐘
操作環境： 溫度：0-40℃ 濕度：0-80%非冷凝
存儲環境： 溫度：0-50℃ 濕度：0-80%非冷凝

篤摯儀器（上海）有限公司
：朱盛
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公司地址：上海市浦東新區外高橋保稅區華京路418號